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半导体和电子封装中的bumping缺陷

发布人: 发布时间:2024-09-29 阅读数 (34)

在半导体制造中,"bumping"指的是在芯片上形成微小的金属突起,用于与PCB(印刷电路板)或其他芯片进行电气连接。

常见的bumping缺陷包括:

不均匀高度(Non-uniform bump height):导致接触不良或应力集中,最终可能损坏芯片或影响性能。

缺失或错位(Missing or misplaced bumps):导致部分或全部连接失败,造成功能失常

污染物(Contamination):污染物侵入会导致电气性能下降,增加接触电阻,甚至导致短路。

焊接问题(Solderinglssues):例如冷焊、空洞(voids)或桥接等问题可能影响连接的可靠性。


针对半导体和电子封装中的bumping缺陷,通过VOMMA渲染软件可实现如下拍摄效果:

1.正位度,通过灰度图可以满足检测;

2.高度,通过深度图可以满足;

3.整体效果,通过点云图来实时展示。


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